泰克Tektronix-BSA175C误码率测试仪

误码率测试仪BSA175C主要特点和优点

  • 高达28.6 Gb/s 的码型发生、误码分析和BER 测试能力
  • 经校准的集成经校准的集成压力生成技术,满足多种标准压力接收机灵敏度和时钟恢复抖动容限测试要求
    • *高100MHz 的正弦抖动(SJ)频率
    • 随机抖动(RJ)
    • 有界不相关抖动(BUJ)
    • 正弦干扰(SI)
    • 扩展频谱时钟
    • PCIe 2.0和3.0接收机测试
    • IEEE 802.3ba和32G光纤通道测试
  • 加压力的电眼图测试包括:
    • PCI Express
    • 10/40/100Gb 以太网
    • SFP+/SFI
    • XFP/XFI
    • OIF/CEI
    • 光纤通道(FC8, FC16, FC32)
    • SATA
    • USB 3.0*
    • InfiniBand (SDR, QDR, FDR, EDR)
  • 抖动裕量(Margin)测试、抖动容限一致性模板测试
  • 快速输入上升时间/高输入带宽错误检测器,准确分析信号完整性
  • 物理层测试套件,支持模板测试、抖动峰值、BER轮廓和Q因子分析,使用标准或用户自定义抖动容限模板库进行全方位测试
  • 集成的眼图和BER相关分析
  • 抖动分离及定位(Jitter Map)选件系统丰富的抖动解析 – 支持长码型(如PRBS-31)抖动三角测量,把基于BER的抖动分解功能扩展到Dual Dirac TJ、DJ和RJ限制之外,**分解抖动子成分
  • **的误码定位分析技术(Error Location AnalysisTM),迅速了解BER性能限制,评估确定性误码与随机性误码,执行详细的码型相关误码分析,执行误码突发分析或无误码间隔分析